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HT-7/EAST系列学术报告
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10月17日 Damage profile dependence on D retention in damaged W and its application for tritium safety evaluation using HIDT simulation
2017-10-11|点击: | 【 【打印】【关闭】

  题  目:Damage profile dependence on D retention in damaged W and its application for tritium safety evaluation using HIDT simulation

  报告人: Prof. Yasuhisa Oya (Shizuoka University)

  时  间:2017年10月17日(星期二)  9:00 - 10:00

  地  点:四号楼4楼中间会议室

  ~欢迎感兴趣的同志参加~

 
 
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